生產廠家:瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒

　　校準方式:內部校準

　　精度2 :0.01mg

　　稱量范圍2 :3.1g

　　精度:0.001mg

　　稱量范圍:0.8g

　　參考價格:123400??? 來電優惠

　　梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能，完全滿足基礎稱量應用:在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

　　梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

　　標準配置

　　內置稱量應用程序

　　TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數設置

　　SmartTrac彩色動態圖形顯示器:圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差

　　可設置多達10個特定功能的快捷鍵

　　可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識

　　內置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現無需用手接觸的稱量操作

　　第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件

　　手動開關門的玻璃防風罩

　　可更換的顯示屏保護蓋

　　下掛鉤稱量

　　具有過載保護的稱量傳感器

　　顯示多種質量單位

　　差重稱量應用程序

　　計件和百分比稱量應用程序

　　統計應用程序

　　技術指標

　　極限值

　　XS3DU 雙量程

　　最大稱量值

　　3.1 g

　　可讀性

　　0.01 mg

　　最大稱量值

　　0.8 g

　　可讀性

　　0.001 mg

　　重復性(sd) - 加載處

　　0.006 mg

　　- 低加載（加載處）

　　0.005 mg (0.2 g)

　　重復性(sd) - 加載處

　　0.001 mg

　　- 低加載（加載處）

　　0.0008 mg (0.2 g)

　　線性誤差

　　0.004 mg

　　四角誤差（加載處）1)

　　0.005 mg (2 g)

　　典型值 4)

　　典型重復性（sd）

　　0.0005 mg +1.2 x (10–7)?R_gr

　　典型微分非線性（sd）

　　√2x(10-12)g·R_nt

　　典型微分四角誤差（sd）

　　1.2 x (10–6)?R_nt

　　典型靈敏度偏移（sd）2)

　　3 x (10–6)?R_nt

　　典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)

　　0.1 mg+2.4 x (10–6)?R_gr

　　典型穩定時間

　　穩定時間

　　根據OIML R76

　　2) 在10到30°C的溫度范圍內

　　3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性

　　4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年

　　* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。