以色列DUMA公司提供的M2光束質量分析儀由七刀口式Beam Analyzer和移動平臺組成，通過采集多個測量面實現對M²因子的測量，整體準確度保持在±5％范圍內，滿足用戶對光束質量參數的需求，主要包括M2因子，發散角以及束腰參數等數據的檢測。
由于Beam Analyzer應用刀口式掃描的原理，需要通過刀口截取激光面，因此無法實現對脈沖激光的檢測。為了滿足用戶對測量激光種類的需求，以色列DUMA公司為用戶提供了特殊型號選擇，M2Beam-U3-VIS-NIR。該型號采取CMOS傳感器搭配移動平臺，可以實現對220-1600nm波段脈沖激光的測量，解決了用戶對脈沖激光檢測的需求。刀口式掃描分析原理的測量精度與光束尺寸無關，因此對于微米級的激光束，刀口掃描式分析相比于狹縫或針孔式原理的測量精度略高，M2Beam激光光束分析儀可以實現實時監控激光光束質量，配置USB3.0接口，通過連接移動端，實現數據快速傳輸以及便捷使用。
海納光學提供M2Beam光束質量分析儀的普通版本以及高功率版本，通過配置風冷束流采樣器，可以實現高達4 KW功率的檢測，從而保護探測頭不受功率損傷。
光束質量分析儀M2Beam產品特點:
-可檢測連續激光以及脈沖激光
-獨特的斷層圖像重建技術
-最大25mm光束尺寸測量
-USB3.0接口快速數據傳輸
-激光質量監控
-可配置采樣器，實現高功率激光檢測
-即插即用，使用便捷
光束分析儀M2Beam產品規格參數:
-輸入光束
| 激光質量分析儀 | M2Beam | M2Beam U3 |
| 技術工藝 | 刀口式掃描原理，應用Si探測器，InGaAs探測器和增強型InGaAs探測器 | USB 3.0接口CMOS 2.4MP內置過濾論 |
| 光譜響應（nm） | SI傳感器:350-1100InGaAs傳感器:800-1800Enhanced InGaAs 傳感器:800-2700 | VIS-NIR:350-1600UV-NIR:220-1350 |
| 激光功率范圍 | Si:100 μW-1 W（帶衰減片）InGaAs&UV:100 μW-5 mWHP:4 kW以下 | 10μW-100mW，內置濾光輪HP:4 kW |
| 刀口數 | 7 | — |
| 光束尺寸 | 帶透鏡高達25mm直徑（Si&UV版本） |
| 束腰到透鏡距離 | 2.0~2.5米最佳最小2米 |
-掃描裝配附件
| 材質 | 鋁 |
| 透鏡焦距 | 300mm（在632.6nm時） |
| 透鏡直徑 | 25mm |
| 掃描次數 | 140 |
| 最小步進尺寸 | 100μm |
| 掃描長度 | 280mm |
-整機
| 重量 | 2.5kg |
| 尺寸 | 100×173×415 mm |
| 托架 | M6或1/4“固定 |
| 機械調整 | 水平角:±1.5°，垂直角:±1.5° |
| 電纜長度 | 2.5m |
光束分析儀訂購信息:
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams