Nicomp 380DLS納米粒徑分析儀

　　1.【USP729】檢測項目I推薦;

　　2.符合中國藥典2010版;

　　3.專利的Nicomp多峰算法;

　　4.專利的自動稀釋模塊;

　　5.精確度高;

　　6.特為多組分不均勻體系設計;

　　7.模塊化設計便于維護和升級;

　　8.可配搭多種功率光源和檢測器

　　Nicomp 380 DLS納米粒徑分析儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測納米級別的膠體體系，其粒徑檢測范圍0.3 nm- 10μm。Nicomp 380系列儀器復合采用了Gaussian單峰算法和專利的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。

　　基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨有的兩個主要特點，通過多年在不同領域的實踐證明，Nicomp380系列儀器可以有效區分開相鄰峰，也可以識別并剔除少數較大粒子造成的雜峰。